賽儀歐電子S540全自動(dòng)晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)

s540全自動(dòng)晶圓級(jí)參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，也稱功率半導(dǎo)體參數(shù)系統(tǒng)。 s540是一個(gè)全自動(dòng)化的 48 引腳參數(shù)測(cè)試系統(tǒng)，適用于高達(dá) 3kv 的功率半導(dǎo)體器件和結(jié)構(gòu)的晶片級(jí)測(cè)試。完全集成式 s540 已針對(duì)包括碳化硅 (sic) 和氮化鎵 (gan) 在內(nèi)的新復(fù)合功率半導(dǎo)體材料進(jìn)行優(yōu)化，可以在單次測(cè)試觸摸中執(zhí)行所有高電壓、低電壓和電容測(cè)試。
s540 功能
在單次探頭觸摸中自動(dòng)在多達(dá) 48 個(gè)引腳上執(zhí)行所有晶片級(jí)參數(shù)測(cè)試，包括高電壓擊穿、電容和低電壓測(cè)量，而無需更改電纜或探頭卡基礎(chǔ)設(shè)施 在高達(dá) 3kv 的條件下執(zhí)行晶體管電容測(cè)量，如 ciss、coss 和 crss，而無需手動(dòng)配置測(cè)試引腳 在高速、多引腳、全自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中實(shí)現(xiàn)低電平測(cè)量性能 基于 linux 的 keithley 測(cè)試環(huán)境 (kte) 系統(tǒng)軟件支持輕松進(jìn)行測(cè)試開發(fā)和快速執(zhí)行 非常適合于過程集成、過程控制監(jiān)控和生產(chǎn)芯片分類中的全自動(dòng)或半自動(dòng)應(yīng)用 通過大程度減少測(cè)試時(shí)間、測(cè)試設(shè)置時(shí)間和占地面積，降低擁有成本，同時(shí)實(shí)現(xiàn)實(shí)驗(yàn)室級(jí)測(cè)量性能